機器一覧
機種名 透過電子顕微鏡（TEM）
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| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | JEM-F200 |
| 利用目的 | 薄膜化した試料を透過した電子線を使って、マイクロスコピー(実空間の情報)、ディフラクトメトリー(逆空間の情報)、スペクトロスコピー(エネルギー空間の情報)の3つの情報を得ます。 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(106号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 若山) |
機種名 500MHz核磁気共鳴装置：(500M-NMR)
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| メーカー | ブルカー |
| 型式 | AVANCE III HD 500 |
| 利用目的 | 有機化合物の分子構造決定 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(104号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 國末) |
機種名 飛行時間型質量分析計：(TOF-MS)
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| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | JMS-T100LP |
| 利用目的 | 有機化合物の分子量測定 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(104号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 國末) |
機種名 全自動多目的Ｘ線回折装置SmartLab(XRD)
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| メーカー | リガク |
| 型式 | SmartLab |
| 利用目的 | 粉末回折、薄膜評価、結晶性評価、残留応力評価、SAXS、インプレーン回折他 |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(204号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 山本) |
機種名 微小部分析 光電子分光分析装置（XPS）
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| メーカー | 島津製作所 |
| 型式 | KRATOS AXIS NOVA |
| 利用目的 | 金属、半導体 、セラミックス、触媒、高分子、繊維などの 各種材料及び薄膜試料について、極表面層の元素分析や状態分析が可能。 光電子像の測定やアルゴンイオンエッチングにより深さ方向の分析も可能。 (深さ方向分析は基本的に自己測定) |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(203号室) |
| 連絡先 | info(at)kitcia.kyutech.ac.jpに連絡 |
機種名 X線分析顕微鏡
| メーカー | 堀場製作所 |
| 型式 | XGT-5000TypeⅡ |
| 利用目的 | 非破壊・前処理不要で微小部の元素分析・元素分布分析及び内部構造観察などが簡便に行える装置。 |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(204号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 山本) |
機種名 フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）
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| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | JXA-8530F |
| 利用目的 | 金属、半導体、粉末、鉱物などの固体試料の観察や元素分析 (定性、半定量、定量、線分析、面分析) |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(204号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA-Plus）
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| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | JXA-8530F-Plus |
| 利用目的 | 金属、半導体、粉末、鉱物などの固体試料の観察や元素分析 (定性、半定量、定量、線分析、面分析) |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(204号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 走査電子顕微鏡(SEM)
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| メーカー | 日立ハイテク |
| 型式 | S-3700N |
| 利用目的 | 固体試料の形状観察及び表面状態の観察、元素分析を行う装置 前処理なしでの絶縁物質や生体試料の測定(低真空モード) |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(202号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 結晶方位解析装置(EBSD)/電解放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
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| メーカー | TSLソリューションズ/日本電子 |
| 型式 | TSL Pegasus2300/JSM 7000FSK |
| 利用目的 | EBSD：結晶性材料全般（金属、セラミック、半導体、鉱物など固体試料）の観察や結晶方位解析(配向性、結晶相分布、組織、粒界解析、歪み評価) FE-SEM：個体試料全般の表面形状観察（金属、セラミックス、半導体、高分子、有機物、生体試料など） |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(105号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 電解放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS)：横野研所有機器
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| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | JSM-6701F |
| 利用目的 | 個体試料全般の表面形状観察および元素分析 (金属、セラミックス、半導体、高分子、有機物、生体試料など） |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(105号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 三次元粗さ解析走査電子顕微鏡
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| メーカー | エリオニクス |
| 型式 | ERA-8800 |
| 利用目的 | 金属、半導体、粉末、鉱物などの固体試料の観察や元素分析 (定性、半定量、定量、線分析、面分析)、試料表面の形状測定 |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(204号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 山本) |
機種名 集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
| メーカー | 日立 |
| 型式 | FB-2000A |
| 利用目的 | 電子顕微鏡用試料の前処理装置として、主にTEM用薄膜試料の作製や金属・半導体・粉末・鉱物などの固体試料の断面加工や観察に活用 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(107号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 若山)TEM詳細に連絡先記載 |
機種名 イオンミリング
| メーカー | 日立 |
| 型式 | E-3200 |
| 利用目的 | SEM用試料用の試料表面の平滑化、機械研磨時の研磨痕除去をするための試料加工装置 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(107号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 若山)TEM詳細に連絡先記載 |
機種名 カーボンコーター①
| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | EC-32010型 |
| 利用目的 | 主に走査電子顕微鏡の試料作製装置として、試料表面に導電膜を形成します。 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(105号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 カーボンコーター②
| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | SVC-700-2型 |
| 利用目的 | 主に走査電子顕微鏡の試料作製装置として、試料表面に導電膜を形成します。 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(105号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 オートファインコーター
| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | JFC-1600型 |
| 利用目的 | 主に走査電子顕微鏡の試料作製装置として、試料表面に導電膜を形成します。 用途により保護膜の形成（試料表面を腐食や摩耗から守る）として活用できます。 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(107号室) |
| 連絡先 | 担当者に連絡 (技術員 若山)TEM詳細に連絡先記載 |
機種名 遊星ボールミル
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| メーカー | フリッチュ |
| 型式 | モデルP5 |
| 利用目的 | 特に金属・セラミック・岩石・石炭・石灰・セメント・薬品・電子材料・超電導材料・食品等の粉砕及び混合。塗料・顔料・インク等の分散 |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(205号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 超微小押し込み硬さ試験機(ナノ・インデンテーション・テスター)
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| メーカー | エリオニクス |
| 型式 | ENT-1100a |
| 利用目的 | 材料表面の力学的特性の評価、極微小部位の押し込み硬さ試験 |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(209号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 超小型真空アーク溶解装置
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| メーカー | 日新技研 |
| 型式 | NEV-AD03型 |
| 利用目的 | 小型の高周波溶解炉で少量の鉄など、金属溶解が可能。 少量の試料を多品種作成する場合に有効。 |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(205号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 ハンドプレス
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| メーカー | Wingo |
| 型式 | P-4210型 |
| 利用目的 | 金属などの無機材料をフェノール樹脂に埋め込む |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(206号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 小型平面研磨機
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| メーカー | マルトー |
| 型式 | ML 110NT |
| 利用目的 | ハンドプレスを用いフェノール樹脂に金属などの無機材料を埋め込んだ試料の平面出し、鏡面研磨前処理 |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(206号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 ダイアラップ研磨機
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| メーカー | マルトー |
| 型式 | ML 150P |
| 利用目的 | 小型試料表面の鏡面研磨やTEM観察用薄片の準備試料製作 (オプション治具が必要) |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(206号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 熱分析装置【熱重量測定(TG)/示差熱分析(DTA)/示差走査熱量測定(DSC)】
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| メーカー | リガク |
| 型式 | TG・DTA-8120H，DSC-8270 |
| 利用目的 | 熱挙動の確認 や 耐熱評価 、 物理化学的特性の評価 など |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(206号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 高温型赤外線真空炉
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| メーカー | サーモ理工 |
| 型式 | IVF298W |
| 利用目的 | 試料を真空・各種ガス雰囲気下で赤外線集光照射により急速昇温、クリーン加熱 |
| 設置場所 | 機器分析センター 2階(205号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 デジタルマイクロスコープ
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| メーカー | キーエンス |
| 型式 | VHX-900 |
| 利用目的 | 材料表面の観察(室温環境下) |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(108号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 クイックプロQuickPro
| メーカー | ニコンインステック |
| 型式 | QP-3RH 右手セット |
| 利用目的 | 顕微鏡下での微細作業を行います。100μm以下粒子のハンドリング、FIB薄片のリフトアウト、脂・金属・硝子表面への微細マーキングなどの微細作業に活用 |
| 設置場所 | 機器分析センター 1階(108号室) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 小型卓上万能試験機
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| メーカー | 島津 |
| 型式 | EZ Test |
| 利用目的 | アルミナるつぼ内での鉄などの金属溶解 |
| 設置場所 | 岩田研究室 |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 広帯域固体NMR装置
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| メーカー | サムウェイ |
| 型式 | PROT3000MR |
| 利用目的 | 固体試料の分子構造や様々な分子間相互作用、分子の運動状態などを調べる |
| 設置場所 | 7号棟1階(117) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 電子スピン共鳴装置：(ESR)
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| メーカー | 日本電子 |
| 型式 | JES-RE2X |
| 利用目的 | マイクロ波（Xバンド）の共鳴吸収（ESR）を観測することにより、材料中の不対電子の状態を解析する。本来不対電子を持たない物質においてもラジカル(不対電子)を生成させ測定することも可能。 |
| 設置場所 | 7号棟1階(117) |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 落射型蛍光顕微鏡 【飯塚キャンパス設置機器】
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| メーカー | カールツァイス |
| 型式 | LSM510 |
| 利用目的 | 固体試料や⽣体内での⽬的細胞の蛍光像および通常画像、微分⼲渉像の撮影 |
| 設置場所 | 飯塚キャンパス |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 蛍光分光光度計 【飯塚キャンパス設置機器】
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| メーカー | 日本分光 |
| 型式 | FP-6500 |
| 利用目的 | 物質の蛍光特性を測定。定性および定量分析など |
| 設置場所 | 飯塚キャンパス |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 円二色性分散計 【飯塚キャンパス設置機器】
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| メーカー | 日本分光 |
| 型式 | J-500A |
| 利用目的 | 光学活性分子、あるいは蛋白質や遺伝子などの生体高分子の溶液中でのコンホメーションを解析する |
| 設置場所 | 飯塚キャンパス |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |
機種名 FT-IR(フーリエ変換型赤外分光光度計) 【飯塚キャンパス設置機器)】休止中
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| メーカー | 日本分光 |
| 型式 | FT/IR-615 |
| 利用目的 | 赤外スペクトルを測定する装置 物質の同定・定量、構造解析、品質管理、混合物の分析など |
| 設置場所 | 飯塚キャンパス |
| 連絡先 | センターに連絡<info(at)kitcia.kyutech.ac.jp> |